Chi tiết sản phẩm

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD: Thiết bị đo huỳnh quang tia X đa năng

Thiết bị đo huỳnh quang tia X đa năng cho các ứng dụng lớp phủ đa lớp phức tạp và cực mỏng trong xi mạ, điện tử, bán dẫn và sàng lọc RoHS nhờ được trang bị các công nghệ cao cấp nhất của Fischer.

Dòng máy XDV®-SDD vượt trội với các ưu điểm sau:

• Ống tia X microfocus & đầu dò SDD 50mm2 giúp kết quả đo vô cùng chính xác
• Bàn đo lập trình tự động giúp việc đo dễ dàng và nhanh hơn
• Công nghệ DPP+: Tăng hiệu suất lên đến 50% giúp tốc độ đếm cao hơn, giảm thời gian đo và độ lặp lại được cải thiện.
• Phần mềm WinFTM®: Truyền dữ liệu, đánh giá và xuất dữ liệu thời gian thực.